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RFID試験・検査装置

RFID試験・検査装置

RFID試験・検査装置とは

RFID技術の進歩と共に、メーカー各社から様々な特性を持ったタグが製品化されています。

RFIDシステムの成功のカギは、これら多様なタグの中から対象となるアプリケーションに最適な特性を持ったタグを、如何に早く容易に探し出せるか否かにかかっています。そのためには様々なメーカーの製品を、国際規格に準拠した共通のパラメーターを基に、再現性のある一貫した方法で試験・評価し、その違いを明らかにする事が重要です。

CISCセミコンダクター社のRFID試験・検査装置は、"ISO/IEC 18046-3"や "GS1 EPCglobal Tag Performance Parameters and Test Methods Version 1.1.3" などの国際試験規格に準拠した方法で試験・評価を行い、周波数毎のタグの読み取り距離や放射パターン、タグとリーダー間交信解析などによって多様なタグの違いを浮き彫りにし、アプリケーションに適したタグの選定を可能にします。
 


製品ラインナップ

Xplorer
1台でタグやリーダーの開発・設計・製造からシステム構築まで全ての要求に応えます。